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多晶X射線X射線表面分析儀用于晶體物質結構定性定量分析。XD6提高了快速轉動速度，從而提高實驗效率。
多晶X射線X射線表面分析儀
XD6型多晶X射線衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產品在XD3基礎上設計，測角儀掃描半徑連續(xù)可調。該功能使得用戶可以在儀器測角分辨率和測試衍射線強度之間進行均衡選擇，自行設定需要的試驗條件，滿足不同情況試驗需求。XD6提高了快速轉動速度，從而提高實驗效率。
多晶X射線X射線表面分析儀 產品特點：
• 結構新，采用立式測角儀結構，更加方便的樣品放置方式，對于操作、維護的工作力度簡化，更加直觀的使用，便于清理實驗后的樣品臺。
• 采用細分驅動電源技術,掃描半徑連續(xù)可調。
• 進口NaI閃爍晶體計數(shù)探測器，分辨率及長時間使用穩(wěn)定性好。
• X射線管套采用整體銅棒材加工定位精度、射線防護性更好；采用了轉輪式快門，開關速度更快，故障率更低，射線阻斷性更好，機柜外輻射劑量低。
• X射線光源的數(shù)字控制電路作了進一步的改善，X光機的工作功率*由計算機遙控設定。高壓與管流的加載過程受微電腦控制自動操作，使用更加簡單，運行更加可靠。
• 中文視窗操作界面，全新改版的PDP衍射數(shù)據(jù)處理軟件包，支持多種數(shù)據(jù)輸出方式。
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